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電子元器件快速溫度變化試驗(yàn)箱是專門用于檢測電子元器件性能的重要設(shè)備。它能夠在短時(shí)間內(nèi)實(shí)現(xiàn)大幅度的溫度快速變化，模擬苛刻環(huán)境。通過精準(zhǔn)控溫，使電子元器件經(jīng)歷交替的熱脹冷縮，從而快速檢測出潛在的質(zhì)量問題和可靠性缺陷。這有助于提高電子元器件的質(zhì)量，減少產(chǎn)品在實(shí)際使用中的故障風(fēng)險(xiǎn)，保障電子產(chǎn)品的穩(wěn)定運(yùn)行，是電子元器件生產(chǎn)和研發(fā)過程中重要的檢測工具。

TEA-408PF快速溫度變化試驗(yàn)箱主要用于電工、電子產(chǎn)品及其元器件，以及其他材料在高溫、低溫綜合環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。它可用于產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及檢驗(yàn)等環(huán)節(jié)。 溫度參數(shù) 溫度范圍：-70℃～150℃。 溫度波動(dòng)度：±0.5℃。 溫度偏差：±2.0℃。 升溫速率：線性（5/10/15/20）℃/min。 降溫速率：線性（5/10/15/20）℃/min。